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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)
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真空低溫探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-27
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小型真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2023-12-18產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：2047
氣敏材料測(cè)試真空加熱腔體主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-27產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604T瀏覽量：2669KT-Z1604T真空探針熱臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-03-27產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604T瀏覽量：1913本1650真空加熱腔 快速升溫爐為桌面式高溫真空加熱臺(tái)。用于少量樣品功能陶瓷，光學(xué)材料，碳復(fù)合材料，硬質(zhì)合金，粉末冶金等在高溫條件下進(jìn)行燒結(jié)處理，也可用于對(duì)樣品高溫真空環(huán)境的電信號(hào)測(cè)試。
更新時(shí)間：2024-03-27產(chǎn)品型號(hào)：詳詢瀏覽量：1872
